COS设备用于COS激光芯片的性能检测工艺,设备采用3工位3通道设计,每个工位配备双积分球检测系统,同时兼容CW模式和QCW模式,可同时测试激光芯片的偏振、功率、波长、Ith、SE、Volt、Iop、Vop、Von、冷波长、热波长、波峰高度、光电转换效率、PBS等参数等参数。